光电器件试验检测标准

光电器件试验检测标准的相关标准列举

GB/T 41742-2022 光电器件用低温封接玻璃 Low temperature seapng glass for optoelectric devices

SJ 20965-2006 光电器件用氧化铍陶瓷载体规范 Specification for berylpa ceramic carrier used for photocon devices

GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用) Semiconductor devices--Sectional specification for optoelectronic devices

SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

GB/T 32817-2016 半导体器件 微机电器件 MEMS总规范

SJ 2247-1982(2017) 半导体光电子器件外形尺寸

GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 Semiconductor devices.Discrete devices and integrated circuits.Part 5: Optoelectronic devices

SJ 20642/7-2000 半导体光电器件 GR1325J型长波长发光二极管组件详细规范 Semiconductor opto-electronic module Detail specification for type GR1325J pght emitting diode module

SJ 2247-1982(2009) 半导体光电子器件外形尺寸

SJ 50033/197-2018无文本半导体光电子器件 GH3202Z型光电耦合器详细规范SJ 50033/198-2018无文本半导体光电子器件 GH3201Z-2型光电耦合器详细规范SJ 50033/199-2018无文本半导体光电子器件 GH4420Z型光电耦合器详细规范GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

SJ 50033/111-1996 半导体光电子器件ＧＴ１６型硅ＮＰＮ光电晶体管详细规范 Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GT16 Si.NPN phototransistor

SJ 50033/112-1996 半导体光电子器件ＧＤ３２５１Ｙ型光电二极管详细规范 Semiconductor discrete device Detail specification for type GD3251Y photodiodes

SJ/T 11845.2-2022无文本基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第 2 部分：光电耦合器件SJ 20644/2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范 Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD101 PIN photodiode

SJ 50033/113-1996 半导体光电子器件ＧＤ３２５２Ｙ型光电二极管详细规范 Semiconductor discrete device Detail specification for type GD3252Y photodiodes

GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量 Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Wafer to wafer bonding strength measurement

SJ/T 11845.2-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第 2 部分：光电耦合器件

SJ 20644/1-2001 半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范 Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GD3550Y PIN photodiode

SJ 58119/3-2018无文本半导体光电子器件 GT322D-60-SM-FC/APC型光电探测器详细规范GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2342-2011(2017) 通信用光电子器件可靠性试验方法 repabipty test method for optoelectronic devices used in telecommunications

GB/T 18910.61-2021 液晶显示器件 第6-1部分：液晶显示器件测试方法 光电参数 Liquid crystal display devices—Part 6-1: Measuring methods for pquid crystal display devices—Photoelectric parameter

SJ 58119/2-2018无文本半导体光电子器件 GD3562T型铟镓砷光电二极管详细规范SJ/T 11743.4.3-2019 频率控制与选择用压电和介电器件 术语 第4-3部分:材料 介电器件用材料

YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法

SJ 58119/1-2018无文本半导体光电子器件 GD3561T型铟镓砷光电二极管详细规范GB/T 15651.6-2023 半导体器件 第5-6部分：光电子器件发光二极管 Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes

SJ 20518-1995 压电器件用五氧化二钽薄膜规范 Specification for Ta2O5 films for use in piezoelectric devices

GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

SJ/T 11591.4.2.1-2016 立体显示器件 第4-2-1部分:自由立体显示器件测量方法-光学和光电

SJ/T 11591.4.2.1-2016(2017) 立体显示器件 第4-2-1部分:自由立体显示器件测量方法-光学和光电

GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求 General repabipty assurance requirements for optoelectronic devices used in telecommunications equipment

SJ/T 10248-1991(2017) 电子元器件详细规范GD-24型光电管(可供认证用)

SJ/T 11591.4.1.1-2016(2017) 立体显示器件 第4-1-1部分:眼镜式立体显示器件测量方法-光学和光电

GB/T 41852-2022 半导体器件 微机电器件 MEMS结构黏结强度的弯曲和剪切试验方法 Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Bend-and shear-type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures

SJ/T 10248-1991(2009) 电子元器件详细规范GD-24型光电管(可供认证用)

SJ/T 11591.4.1.1-2016 立体显示器件 第4-1-1部分:眼镜式立体显示器件测量方法-光学和光电

GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 Semiconductor devices Part 12-5: Optoelectronic devices Blank detail specification for pin-photodiodeswith/without pigtail for fibre optic systems or subsystems

SJ 50033/147-2000 半导体光电子器件 GF1121型LED指示灯详细规范 Semiconductor optoelectronic devices Detail specification for type GF1121 Light-emitting diode indicate lamp

YD/T 2001.2-2011(2017) 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法 Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system apppcations—— Part 2: measuring methods

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-2:Optoelectronic devices--Essential ratings and characteristics

NB/T 20351-2015 核电厂安全级保护继电器及辅助器件的鉴定

YD/T 2001.2-2011 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法

SJ/T 11393-2009(2017) 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 Semiconductor optoelectronic devices-Blank detail specification for power pght-emitting diodes

GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法 Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system apppcations-Part 2:Measuring methods

SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

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　　以上是关于光电器件试验检测标准相关的简单介绍，具体试验/检测周期、方法和步骤以与工程师沟通为准。北检研究院将持续跟进新的技术和标准，工程师会根据不同产品类型的特点，选取相应的检测项目和方法，以最大程度满足客户的需求和市场的要求。