光学连接元件检测

　　北检(北京)检测技术研究院 光学连接元件检测项目：耐低温测试、耐火性、温度循环冲击试验、界面密封测试等，北检研究院实验室可根据BS EN 2591-101-1994、BS EN 2591-323-1998等相应光学连接元件检测标准为合作伙伴提供分析服务，检测周期：常规试验到样后 7-15个工作日出具光学连接元件检测报告

光学连接元件检测项目

　　外观质量、电过载测试、长霉试验、防沙测试、易燃性、耐低温测试、耐火性、温度循环冲击试验、界面密封测试、耐冰冻测试、横向负荷、轴向负荷、机械耐久性、插拔力、夹持力、电镀孔隙率、雷击测试、电流、电压脉冲试验等

光学连接元件检测标准

　　AECMA PREN 2591-214-2000 航空航天系列.电气和光学连接元器件 试验方法.第214部分:雷击、电流和电压脉冲

　　BS EN 2591-101-1994 电气和光学连接元素.试验方法.外观检测

　　BS EN 2591-210-1998 电气和光学连接元件.试验方法.电过载

　　BS EN 2591-306-1998 电气和光学连接元件.试验方法.长霉

　　BS EN 2591-308-1998 电气和光学连接元件.试验方法.沙和灰尘

　　BS EN 2591-310-1998 电气和光学连接元件.试验方法.冷式法

　　BS EN 2591-317-1998 电气和光学连接元件.试验方法.易燃性

　　BS EN 2591-318-1998 电气和光学连接元件.试验方法.耐火性

　　BS EN 2591-322-1998 电气和光学连接元件.试验方法.气密性

　　BS EN 2591-323-1998 电气和光学连接元件.试验方法.温度冲击

　　BS EN 2591-324-1998 电气和光学连接元件.试验方法.界面密封

　　BS EN 2591-325-2002 电器和光学连接元件.试验方法.耐冰冻

　　BS EN 2591-404-1998 电气和光学连接元件.试验方法.横向负荷

　　BS EN 2591-405-1998 电气和光学连接元件.试验方法.轴向负荷

　　BS EN 2591-406-1998 电气和光学连接元件.试验方法.机械耐久性

　　BS EN 2591-408-1998 电气和光学连接元件.试验方法.啮合力和非啮合力

　　BS EN 2591-410-1998 电气和光学连接元件.试验方法.留在壳体中的插入物(轴向)

　　BS EN 2591-411-1998 电气和光学连接元件.试验方法.留在壳体中的插入物(扭转的)

　　BS EN 2591-412-1999 电气和光学连接元素.试验方法.接触插入和抽吸力

　　BS EN 2591-413-1998 电气和光学连接元件.试验方法.接地弹簧设备的夹持力

　　以上是关于光学连接元件检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、方法和步骤以与工程师沟通为准。北检研究院将持续跟进新的技术和标准，工程师会根据不同产品类型的特点，选取相应的检测项目和方法，以最大程度满足客户的需求和市场的要求。